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產(chǎn)品分類多功能RoHs鹵素元素測(cè)試儀 1.采用美國(guó)原裝電致冷高性能Si-PIN探測(cè)器,分辨率高,探測(cè)范圍寬,涵蓋RoHS、鹵素、鍍層、合金(含貴金屬)及各種常規(guī)材料分析的基本要求。 2. 配置*DPP數(shù)字多道信號(hào)集成處理器,比普通模擬多道信號(hào)處理器性能更佳,尤其在高計(jì)數(shù)率時(shí)有更好的分辨力(如Hg和Cl等),高達(dá)80MHz的數(shù)據(jù)傳輸速度使分析時(shí)間更短,測(cè)量重復(fù)性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性更好。
Chroma 19036 繞線元件電氣安規(guī)綜合測(cè)試儀 五合一安規(guī)掃描分析儀 (交流耐壓、直流耐壓、絕緣電阻、層間短路、 直流電阻) 耐壓測(cè)試(Hi-pot) - 5kVac / 6kVdc - HSCC 高速接觸檢查 絕緣電阻測(cè)試(IR) - 大 5kV 繞線元件脈衝測(cè)試 (IWT) -脈衝測(cè)試高取樣率(200MHz) 直流電阻測(cè)試 - 10通道四線直流電阻測(cè)試 -Δ型/Y型馬達(dá)繞
綜合測(cè)試儀測(cè)試頻率為20Hz-200kHz,可達(dá)到0.5mHz的zui小分辨率,提供0.05%的測(cè)量準(zhǔn)確度,為您現(xiàn)在和未來的產(chǎn)品提供充分的測(cè)試保障。